型號概述

主要性能特點

●  ?具有 6? 位分辨率，相比同類產(chǎn)品頗具性能優(yōu)勢

●  支持功率半導體、HBLED、光學器件、太陽能電池、GaN、SiC 和其他復合材料與設備的檢定/測試。應用范圍包括半導體結(jié)溫度檢定；高速、高精度數(shù)字化；電遷移研究；以及高電流、高功率設備測試

●  提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓，包括 GaN、SiC 及其他復合材料和器件、高達 3kV 的擊穿和漏電測試以及亞毫秒瞬態(tài)檢定

●  支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從全球任何地方進行遠程控制

●  支持精確檢定瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為，包括快速變化的熱效應

●  可讓多臺 2657A 與所選 2600B 系列 SMU 儀器組合成多達 32 條通道的集成系統(tǒng)

●  為封裝件或晶片級高功率器件的測試提供安全而方便的連接

●  幫助您創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲 TSP 測試腳本

●  在產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量檢驗或故障分析期間執(zhí)行封裝件檢定時，充分地提高工作效率

產(chǎn)品應用

●  功率半導體器件特征分析與測試

●  GaN、SiC和其它一些復合材料與器件 的特征分析

●  高達3kV的擊穿與漏流測試

●  亞毫秒瞬態(tài)特征分析

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